每日經(jīng)濟(jì)新聞 2026-03-18 20:34:33
每經(jīng)AI快訊,3月18日,佰維存儲(chǔ)在互動(dòng)平臺(tái)表示,公司在NAND Flash及DRAM存儲(chǔ)芯片領(lǐng)域的ATE測(cè)試、Burn-in(老化)測(cè)試、SLT(系統(tǒng)級(jí))測(cè)試等多個(gè)環(huán)節(jié),擁有從測(cè)試設(shè)備硬件開發(fā)、測(cè)試算法開發(fā)以及測(cè)試自動(dòng)化軟件平臺(tái)開發(fā)的全棧測(cè)試開發(fā)能力。公司自主研發(fā)的測(cè)試設(shè)備已對(duì)內(nèi)賦能公司自有產(chǎn)線的測(cè)試環(huán)節(jié),并積極對(duì)外開拓市場(chǎng)。
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